标 准 编 号：GB/T 23413-2009
简体中文标题：纳米材料晶粒尺寸及微观应变的测定 X射线衍射线宽化法
繁體中文標題：納米材料晶粒尺寸及微觀應變的測定 X射線衍射線寬化法
English Name：Determination of crystallite size and micro-strain of nano-materials—X-ray diffraction line broadening method
标准简介：
本标准规定了利用X射线衍射线宽化法来测定纳米材料晶粒尺寸和微观应变的方法。本标准采用的计算方法是近似函数法。
本标准适用于测定晶粒尺寸一般不大于100nm，微观应变一般不大于0.1%的纳米材料。
“GB/T 23413-2009” 标准由“标准下载站-www.liushuye.com”收集整理，仅供学习之用，如用于商业用途，请购买正版，因使用或转载而引起的法律纠纷请自负。
