MEMS可靠性/微纳系统系列译丛书 下载

MEMS可靠性
作者：（日）田畑修，（日）土屋智由 著，宋竞 等译
出版社：东南大学出版社
出版时间：2009-3-1
丛编项：微纳系统系列译丛书

　《MEMS可靠性》是国际上MEMS可靠性领域第一本专著，共分为两部分。第一部分论述MEMS材料的可靠性内容及主要表征方法，包括MEMS材料的可靠性，微纳压痕仪，鼓胀测试，弯曲测试，单轴张应力测试，片上测试；第二部分论述MEMS器件的可靠性，包括压力传感器可靠性，惯性传感器可靠性，RFMEMS可靠性和光MEMS可靠性。内容新颖，数据充实，适合于微机电系统、微电子、光电子、传感器、通讯技术领域的高年级大学生、研究生和工程技术人员参考
本站免费提供《MEMS可靠性/微纳系统系列译丛书》下载，我们己经对《MEMS可靠性/微纳系统系列译丛书》进行全面的整理检查，以保证您安全的下载《MEMS可靠性/微纳系统系列译丛书》，本站还有更多房地产资料提供下载，为下次能方便快速的找到本站，记得收藏我们的网址（http://www.liushuye.com）哦！